新型的GT4040UXP-Ⅱ可在WIN98，WIN2000，WIN XP 等系統(tǒng)下工作，帶有USB接口，雙CPU工作，速度更快，效率更高。可測三端器件，另外有庫，西門子庫，可定量測試L，C，R參數(shù),,可對運算放大器，光耦，三端電源進行測試。
。

產(chǎn)品特點： 
在維修各種電子設備時，您是否常因圖紙資料不全而束手無策？您是否常因高昂的維
修費用而增添煩惱？

[GT]系列檢測儀幫助您解除電路板維修中的煩惱。配合電腦使用，全部智能化。它利
用電腦來彌補人工維修能力的不足，能夠在維修人員缺乏圖紙資料或不清楚電路板工作原
理的情況下，對各種類型的電路板進行ASA分析或ICT測試，在線檢測元器件好壞，迅速檢
測到電路板上故障元器件。簡捷經(jīng)濟地修好各種類型電路板。

產(chǎn)品特點：

◆先進的測試技術，*的驅動能力，任何故障原因的電路板皆可修好
◆友好簡單的中文操作界面，不經(jīng)專業(yè)訓練，任何人均可成為維修專家
◆無需電路原理圖，不必知道器件型號，對任何電路板皆可快速維修
◆40×2路數(shù)字電路測試功能，備有TTL/CMOS/RAM及中規(guī)模集成電路數(shù)據(jù)庫；
◆40×2（ASA）V/I，曲線分析測試功能
◆電路板測試存儲功能，被測板可與之比較
◆與進口同類儀器比較，性價比更優(yōu)，操作更方便
◆通用于各類雙列直插式封裝芯片，可為大中規(guī)模集成電路提供分析測試。
◆本功能亦可通過學習記錄，比較分析來測試。 

技術規(guī)格：
Windows界面可在WIN98，WIN2000，WIN XP 等系統(tǒng)下工作
雙CPU工作，速度更快，效率更高。
功能測試40×2通道
VI曲線測試40×2通道
雙測試夾VI曲線測試
網(wǎng)絡提取 程控加電
EPROM/RAM在線讀取
模擬器件 VI曲線測試
總線隔離信號
中文維修筆記

一、序言
GT/ICT系列測試儀已推出近十年。一方面漸入人心，一方面用戶也有了更高的要求。我公司集多年不懈努力，成功研制出換代產(chǎn)品GT/ICT-Ⅱ系

列，把GT/ICT測試儀發(fā)展到了一個新的階段，能夠更好的滿足用戶的實際需求。
從測試技術方面來看，GT/ICT測試儀是“后驅動”、“器件模擬端口分析（ASA）”測試技術的簡單使用，而GT/ICT-Ⅱ系列是在跟隨這兩項技

術在上的發(fā)展，在總結了多年來的實際應用經(jīng)驗的基礎上重新設計而成，因而有更好的測試效果；從產(chǎn)品的軟、硬件實現(xiàn)技術方面來

看，GT/ICT軟件脫胎于DOS系統(tǒng)，主要由中小規(guī)模集成電路組成，而GT/ICT-Ⅱ系列*在Windows平臺上打造，大量采用了大規(guī)模EPLD、表面貼

裝器件等現(xiàn)代電路設計技術，因而具有更友好的人-機界面，更高的技術指標和可靠性。 
全面提高技術水平的目的，是改進、擴充測試功能。為突出重點，先在本文中介紹對兩個Z常用的測試功能：“ASA（VI）曲線測試”、“數(shù)

字器件在線功能測試”的改進。（注意相同之處不再贅述，請參見GT/ICT測試儀的相關說明）。我們將在以后的文章中，介紹其它方面的改進

。
需要說明的是，市場上的GT/ICT系列測試儀有幾個版本，總體水平差別不大，僅軟件界面形式略有不同。本文主要以其中一種作為參照。

二、對ASA（VI）曲線測試的改進
2.1 大大擴展了故障覆蓋范圍
這里擴展范圍，是指GT/ICT測試儀不能測試，或測試效果不好，而GT/ICT-Ⅱ能夠測試，或測試效果有較大改進。
2.1.1 測試三端器件
GT/ICT測試儀不能全面檢測三端器件的好壞。GT/ICT-Ⅱ*解決了這個問題。
三端器件是指閘流管（可控硅）、MOS三管、電壓調節(jié)器等具有三個引出端，以及光藕、繼電器等可以等效成三個引出端的器件。下面以閘流

管（可控硅）為例，來說明GT/ICT-Ⅱ如何改進了對此類元件的測試。
用GT/ICT測試閘流管，當ASA（正弦）測試信號加在它的陽和陰之間時，控制端沒有信號，閘流管處于截止狀態(tài)，所以從曲線上只能觀察到

截止狀態(tài)是否正常（兩之間是否短路、或有較大漏流），不能發(fā)現(xiàn)導通狀態(tài)是否正常。比如，會把陽和陰開路的故障誤判成截止狀態(tài)正

常。
GT/ICT-Ⅱ設計了一個脈沖信號，測試時加在閘流管的控制端，控制閘流管在ASA（正弦）測試信號期間出現(xiàn)導通、截止兩種狀態(tài)，實現(xiàn)了對閘

流管進行全面的檢測。
例1：用GT/ICT-Ⅱ測出的*閘流管的曲線

圖中橫線是否足夠水平反映了截止狀態(tài)是否夠好、豎線是否足夠垂直反映了導通阻抗是否足夠小、豎線與縱軸的間距就是導通電壓的大小。

（GT/ICT測試儀只能測出一根水平線。）
測試不同的三端器件需要不同的控制方式——正弦波和脈沖的匹配（同步）形式。為了更好地滿足測試各種三端器件的不同要求，在GT/ICT-Ⅱ

上共設置了八種匹配方式——脈沖相對于正弦波的起始、結束位置及寬度、高度均可調整；支持單向觸發(fā)、雙向觸發(fā)。詳細情況請參見產(chǎn)品使

用說明。
2.1.2 自動曲線靈敏度調整
GT/ICT測試儀沒有ASA曲線對電路變化（故障）的自動靈敏度調整功能，有些本該能夠檢測出來的故障因此不能發(fā)現(xiàn)。
我們來比較下面三組電阻的ASA曲線。 

0.1K/0.15K 1K/1.5K 10K/15K
*組顯示了0.1K和0.15K電阻的VI曲線；第二組1K和1.5K；第三組10K和15K。盡管實際電路的相對變化大小*相同，但看上去中間兩條曲線

差別大，兩邊的要小得多。我們說，中間組的曲線靈敏度高，而兩邊組的靈敏度低。由于ASA測試是通過曲線位置差異大小來發(fā)現(xiàn)故障的，所以

，在故障測試中很可能只判斷中間組有問題。
可以證明，VI曲線的走向趨勢越接近45度，反映電路變化的靈敏程度越高；如果VI曲線是一個封閉圖形，曲線包圍的面積越大，靈敏度越高。
曲線的靈敏度與被測試點的特征和測試參數(shù)相關。依據(jù)具體的結點特征，調整測試參數(shù)，從而得到較高靈敏度的曲線，叫做調整VI曲線（關于

電路故障的）靈敏度。
GT/ICT-Ⅱ新增加了自動曲線靈敏度調整功能。對于上面三種情況，在選中自動靈敏度調整后，測到的三組曲線都和中間組一樣。
2.1.3 測試大電容
GT/ICT只能測試Z大約兩、三百微法的電解電容的好壞。GT/ICT-Ⅱ把檢測范圍擴大到了兩萬微法以上。
排查電路板上容量較大的電解電容的漏電、容量變化導致的故障，是一件相當令人頭痛的事情。對維修測試來說，利用ASA曲線測試進行檢測可

能是的辦法。但是GT/ICT測試儀的測試范圍小，當容量到幾百微法以上時，本該是一個橢圓的電容ASA曲線就蛻化成了一根短路線（所包圍

的面積趨于零），根本無法判別出好壞。GT/ICT-Ⅱ加寬了測試儀的技術指標，對于高達兩萬多微法的電容，都能測出一個包圍了相當面積的橢

圓。
2.1.4 給同一器件的不同管腳設置不同的測試參數(shù)
GT/ICT沒有這個功能，導致對有的器件測試效果差，有的器件無法測試。
用GT/ICT測試儀測試一個有多個管腳的器件的曲線，所有管腳都只能使用同樣的測試參數(shù)，所有管腳都要依次測試一遍。但實際檢測中，確實

存在不同管腳使用不同測試參數(shù)，來保證測試效果，也存在個別管腳不允許測試的情況。
比如，集電開路器件7403的輸入是標準TTL電平，而輸出Z大耐壓可達32V，常用于驅動數(shù)碼管、繼電器等。測試這種器件，測試輸入、輸出

腳的信號幅度要分別設置：對輸入應設在略大于5V；對于輸出應設置在略大于負載電壓，小于32V之間（比如驅動12V數(shù)碼管時一般用15V），才

能達到全面檢測的目的。GT/ICT測試儀不能滿足這種使用要求。
還有，電路板上帶電池的存儲器里面有數(shù)據(jù)，在它的電源端、片選端不能加任何測試信號，否則會導致數(shù)據(jù)丟失。GT/ICT測試儀不能測試這類

器件。
GT/ICT-Ⅱ測試儀考慮到了這些情況。允許分管腳設置測試參數(shù)，也允許不做測試的管腳。
2.2 大大提高了測試可靠性
測試可靠性是指測試結果能真實反映實際情況，不會導致用戶誤判故障的能力。
2.2.1 曲線穩(wěn)定性問題
GT/ICT測試儀不能發(fā)現(xiàn)不穩(wěn)定曲線，會把好電路誤判為有故障。
即使電路**，也存在這樣的情況——在同一個管腳上，每次測到的曲線有明顯不同。這種情況叫做該處的曲線不穩(wěn)定。產(chǎn)生不穩(wěn)定

曲線的原因以及如何讓曲線穩(wěn)定下來的辦法請參見“電路在線維修測試儀上的ASA測試”?！对O備管理與維修》2006.6,2006.7。但測試儀先

要能夠把不穩(wěn)定曲線識別出來，然后才談得到處理，否則就可能把好電路誤判為有故障。
GT/ICT-Ⅱ能夠把不穩(wěn)定曲線識別出來，并且能具體指示出哪一個管腳上的曲線不穩(wěn)定，這無疑有助于提高測試結果的可靠性。
2.2.2 接觸問題
使用測試夾學習ASA曲線的時候，器件管腳氧化、防銹涂層未打磨干凈、測試夾引腳磨損等原因，經(jīng)常造成夾子引腳與器件引腳接觸不上，結果

學習到了一條虛假的開路曲線；比較曲線時也有同樣問題。這種不可靠的曲線會導致誤判，所以在實際使用中，一旦發(fā)現(xiàn)開路曲線，都要再次

確認，比如打磨該引腳后重測。
問題在于使用測試夾測試時，一次測試要處理許多條曲線。曲線多了以后，往往不能在一屏上一起都顯示出來。象GT/ICT測試儀那樣，靠人工

從許多條曲線中確認有無開路曲線，得來回翻屏或滾屏，不但效率低，而且容易漏檢。
GT/ICT-Ⅱ設計了自動開路曲線偵測、提示功能。在一次測試到的所有曲線中，只要存在開路曲線，會給出多種提示信息。根據(jù)提示很容易找到

它在哪個管腳上，很難漏檢。
2.2.3 平均曲線
當測試大量的相同對象（比如一批同樣的電路板或相同器件）時，使用從哪個好的電路板或器件上學習到的曲線作為參照標準為呢？
使用GT/ICT-Ⅱ測試儀，可以先學習幾個好的電路板或器件，得到多個文件，然后利用平均曲線功能，把這些文件中的曲線自動求平均后，再自

動生成一個新的曲線文件，作為以后的測試比較標準。該功能通常用于建立高質量的標準曲線庫。
2.3 大大提高了使用效率
2.3.1 迅速發(fā)現(xiàn)并找到異常曲線（開路、不穩(wěn)定、比較差）
用測試夾進行測試時，一次會提取、顯示出多條曲線。如何才能迅速判定這些曲線中是否有異常曲線（開路、不穩(wěn)定、差），并迅速找到異

常曲線呢？
使用GT/ICT，需要用戶把所有曲線逐一檢查一遍后進行判斷。不但效率，而且容易漏判。為此，GT/ICT-Ⅱ增加了新的顯示手段。
1．前面已經(jīng)說明，GT/ICT-Ⅱ能夠自動檢測異常曲線。在一次測試中哪怕只有一條異常曲線，先在屏幕上部顯著位置提示：有開路曲線或有

不穩(wěn)定曲線或比較差，以引起用戶注意； 
2．在學習曲線時，增加了按先異常、后正常排列方式，將異常管腳曲線排列在其它管腳曲線的前面； 
3．在曲線比較時，增加了按曲線誤差大小順序排列的方式，自動將誤差較大的曲線排在前面（由于比較時主要關心差曲線）；
4．打開管腳列表窗口，直接提示在管腳號的旁邊。
2.3.2 測試曲線
一次測試了多條管腳曲線后，可能對某個管腳曲線有疑問，或不太滿意。比如，有異常曲線，要進行適當處理（比如對開路曲線，打磨該管腳

）后重測；或者想修改某條曲線的設置參數(shù)后，再重測該條曲線，觀察其變化。使用GT/ICT-Ⅱ，在做完處理后，你只要用鼠標雙擊某曲線，就

將僅僅測試這條曲線，其它曲線*不受影響。方便、快捷。
2.3.3 由管腳號查找曲線
當一次測試的曲線較多，一屏顯示不下時，要來回翻屏或滾屏才能查看某個管腳的曲線，影響效率。GT/ICT-Ⅱ增加了直接從管腳號查找曲線的

功能。只要在腳號列表窗口中雙擊某腳號，就自動把該管腳的曲線移到屏幕顯示區(qū)，并用彩色框框起來。十分快捷。
2.3.4 聲音提示
雙探棒直接對照測試方式相當常用。用GT/ICT進行測試時，每測試一個引腳，要先低頭——把兩個探棒穩(wěn)定接觸在相應被測管腳上，然后再抬

頭看屏幕——確認對照結果，一上一下，有人開玩笑稱為“雞啄米”。當處理的腳數(shù)多時，相當辛苦且影響效率。
GT/ICT-Ⅱ上設置了聲音提示。只要比較不差（這是大多數(shù)情況），計算機就發(fā)出“嗒嗒”的提示聲，類似于使用萬用表的BEEP擋，基本解決

了這個問題。
2.4 大大改善了人-機界面友好程度
2.4.1 三種曲線坐標
GT/ICT只在電壓（V）-電流坐標（I）上顯示器件的端口特征曲線，這也是通常把ASA測試叫做VI曲線測試的原因。但對有的測試結果，換一種坐標

可能更容易理解曲線所反映的電路問題。這就好比解析幾何中有直角坐標系、又有坐標系一樣。
GT/ICT-Ⅱ測試儀提供三種坐標：電壓（V）-電流（I）坐標、時間（T）-電壓（V）坐標和電壓（V）-電阻（R）坐標。下面給出*閘流管在兩種不同坐

標下的曲線。



電壓（V）-電流（I）坐標 時間（T）-電壓（V）坐標
注意右邊的曲線。在測試（正弦）信號的四分之一處，控制上的觸發(fā)信號使閘流管導通，曲線變成一段水平線。水平線距橫軸的距離就是閘

流管的飽和電壓。
2.4.2 在曲線上提示參數(shù)（Tooltips）
把鼠標光標放在曲線上，GT/ICT-Ⅱ利用Tooltips技術顯示出光標處的參數(shù)。十分方便。請參見上圖。
2.4.3 管腳命名
GT/ICT在管腳曲線上提示的管腳號只是阿拉伯數(shù)，并且所有管腳只能按數(shù)字順序一維排列。這在有些時候為不方便。
比如，有的器件管腳是兩維排列的。橫著數(shù)是a、b、c……，豎著數(shù)是1、2、3……。b3表示位于第二列，第三行的管腳；有的電路板外引腳有

上百個，對有的特別引腳會有專門標識—常見的是標識它上面的信號名稱。如果只能用一維數(shù)字作為管腳名，查找起來為不便。
GT/ICT-Ⅱ既能夠自動對管腳按一維排列方式分配管腳序號，也允許用戶給管腳命名。序號和用戶命名同時提示在相應曲線上。查找起來非常方

便。
2.4.4 自定義曲線顯示顏色
不同人對顏色有不同偏好。長期工作在不舒服的顏色下易于疲勞。GT/ICT-Ⅱ允許用戶修改曲線、坐標、字符、背景等的顏色設置。為自己營造

一個較為舒服的工作環(huán)境。

三、對數(shù)字器件在線功能測試的改進
數(shù)字器件在線功能測試，是指對電路板上的器件直接進行邏輯功能好壞的檢測。對這項功能的改進主要包括三個方面：
1．加強對測試條件的檢查能力；
2．加強用戶對測試過程的控制；
3．加強對被測試器件的在線工作環(huán)境的識別能力。
通過上述改進，有效提高了測試結果的準確性。

3.1對測試條件檢查能力的加強
3.1.1 接觸檢查
測試夾與被測器件接觸不好可能會造成錯誤測試結果。GT/ICT-Ⅱ在檢查到測試夾引腳對地電阻大于約1M歐時，會提示接觸不良（開路）。
不過提示開路不一定總有接觸問題。比如使用在線測試功能，測試處于離線狀態(tài)的CMOS器件時，由于這種器件的輸入阻抗很高，所有輸入腳都

會判成開路。
實用中如果測試失敗并且提示有開路狀態(tài)，應確認是否屬于正常情況。如果測試成功，一般可忽略。
3.1.2 電源電壓檢查
這項測試要求必須給被測電路板加電。TTL器件的標稱工作電壓是5V±5%。電源電壓不達標有可能導致器件工作不正常。GT/ICT-Ⅱ在測試前會

自動檢查器件上的電壓是否達標。當電源電壓*，將給出警告提示；
3.1.3 非法電平檢查
本測試儀僅支持5V的TTL、CMOS器件的測試。正常情況下器件所有管腳上的電平值總在大于0V，小于5V之間。但對一個有故障的電路板來說，什

么情況都有可能發(fā)生。GT/ICT-Ⅱ在測試時一旦檢測到器件上有過電壓區(qū)間20%的電平值，將立即給以提示。為了安全起見，不再繼續(xù)測試下

去。
3.2對用戶控制測試過程的加強
3.2.1 調整閾值電平
當TTL器件的輸出低于0.8V，說它輸出為低（電平）；高于2.4V，說它輸出為高（電平）。這里的0.8V，2.4V就是TTL的低、高標準閾值電平。

大致上說，器件的高電平越高，低電平越低越好。GT/ICT的閾值電平是做死的，不能調整。GT/ICT-Ⅱ從硬件上進行了擴充，允許用戶修改閾值

電平。比如，允許設為0.5V，3.0V進行測試。
這是一項很有價值的改進。實用經(jīng)驗表明，使用在線維修測試儀測試一個真正好的TTL數(shù)字器件，它的高電平會遠高于標準高閾值2.4V，低電平

比標準低閾值0.8V低很多。究其原因，可能是在線維修測試儀的測試速度比器件的實際工作速度低很多，分布參數(shù)造成的負載輕很多；反之，

如果測試到一個器件的高、低電平很接近標準閾值，這往往表示該器件的驅動能力已明顯下降，雖然能通過測試，但不能保證上機正常工作，

換掉。
3.2.2 修改測試頻率
GT/ICT-Ⅱ的測試頻率分4檔可選：45Ktv/S，20Ktv/S，5Ktv/S，1 Ktv/S（Ktv/S=千條測試向量/每秒）。缺省值為20Ktv/S。實際測試時，可根

據(jù)具體情況選用。比如74HC類低功耗器件，測試失敗后可降低速度再試一次。
3.2.3 加電延遲時間
在進行測試時，GT/ICT-Ⅱ自動控制給電路板加電——測試一個器件的瞬間接通電源，測試完成后關斷。這樣的好處是避免用戶誤操作損壞電路

扳，帶來的問題是由于電路板上一般有較大電源濾波電容，加電后，電路板上的電源電壓是逐步上升的，需要延遲一段時間后才能達到預期值

。不同大小的電路板需要的延遲時間不同。所以GT/ICT-Ⅱ允許用戶設定接通電源延遲多長時間后開始測試。
3.3對器件在線工作環(huán)境識別能力的加強 
測試電路板上的器件時必須使用適當?shù)母綦x技術來消除關聯(lián)器件對被測試器件的影響。后驅動隔離技術專門用于數(shù)字器件的在線測試隔離。
后驅動技術有一定的使用條件，不滿足這些條件就會由于隔離不成功而測試失敗，把好器件測成壞器件。對在線器件工作環(huán)境的識別，就是盡

量把影響后驅動技術正確使用的情況檢查出來，避免誤判。
3.3.1后驅動技術原理及應用中的問題
后驅動技術是美國人在上世紀60年代發(fā)明的?？珊唵握f明如下：
電路結點一般由器件的一個輸出和若干個輸入組成。參見圖一。設測試U3，就要在U3各輸入腳所在的電路結點上施加測試信號。由于決定結點

電位的是器件輸出而不是輸入，參見圖中的X結點，在該結點上加信號實質上是如何驅動U1的、與X引腳關聯(lián)的輸出，使它能夠根據(jù)測試要求為

高或為低。U3的輸出可以直接取回來。
假定X結點當前狀態(tài)為低電平，怎樣把它驅動至高電平呢？參見圖二給出的TTL器件的典型輸出結構。


輸出低電平時，Q1截止，Q2飽合，這個低電平就是Q2的飽合壓降，約在0.3V以下。Q2的飽和條件為：β2*Ib2>>Ic2。通過測試儀給Q2的集電

注入一個足夠大的電流，使Ic2變得很大，Q2脫離飽合，它的輸出就會升起來。問題在于Q2上的功耗：P=Ic2*Vce2 會隨Ic2、Vce2的增加迅速增

加到P > Pcm（Z大額定功耗）。這是否會損壞Q2呢？后驅動技術證明，只要驅動時間不過26毫秒，不會有問題。在發(fā)達，滿足這個時間

要求的在線測試儀器允許用于軍方設備。
對于輸出為高而要驅動為低的情況，分析方法相同，只是把向Q2集電灌電流改為從Q1發(fā)射拉電流。
從以上對后驅動技術的說明可以看出：
1．后驅動技術用于隔離數(shù)字器件之間的關聯(lián)對測試的影響；
2．假定一個電路結點由一個輸出多個輸入組成；
3．被測試器件上不能有其它邏輯信號；
4．不能處理異步時序電路。
然而在實際電路板上，確實存在著數(shù)字器件和非數(shù)字器件關聯(lián)（比如數(shù)字器件輸出驅動晶體管基、運放驅動數(shù)字器件輸入）、一個電路結點

上有不止一個數(shù)字器件輸出（比如數(shù)據(jù)總線）、被測器件上有其它邏輯信號（比如板上有晶振）等等。這些情況經(jīng)常會影響后驅動技術的正確

使用（一般稱作隔離不開），會導致不正確的測試結果。
3.3.2 對和非數(shù)字器件相關聯(lián)的處理
這種情況造成隔離失敗的原因，主要是結點電位被非數(shù)字器件鉗死，或者驅動信號被非數(shù)字器件吸收，加不上去（也相當于電平被鉗位）。下

圖中給出了兩種常見的結構。

GT/ICT-Ⅱ能把這些情況識別出來，以管腳狀態(tài)的形式提示給用戶，當器件測試失敗后，供用戶進一步分析。GT/ICT-Ⅱ能夠識別出6種與此相關

的管腳狀態(tài)：
電 源：恒高且為電源腳；
恒 高：不可驅動至低于高閾值；
不可高：不可驅動至高于高閾值；
不可低：不可驅動至低于低閾值；
恒 低：不可驅動至高于低閾值；
地 ：恒低且為地腳。
3.3.3 對多輸出結點的處理
對多輸出結點通常要用總線競爭屏蔽信號（GUARD信號）去解除非被測試器件的輸出對被測器件輸出的影響。有的版本的GT/ICT測試儀沒有

GUARD信號、有的版本只有1、2個GUARD信號—－這在許多情況下不夠用；有的版本的GUARD信號不可控，僅是通過一個小電阻接到電源上——這

不符合后驅動技術的要求，會損壞被屏蔽器件。（詳細說明請參閱有關文章）
GT/ICT-Ⅱ設置了8個*后驅動技術的要求GUARD信號，并且用戶可控。
3.3.4 對板上有邏輯信號的處理
電路板上的邏輯信號可能干擾正確測試。GT/ICT-Ⅱ在測試前會進行檢查。如果在被測器件的管腳上發(fā)現(xiàn)有邏輯信號，會作為一種管腳狀態(tài)“有

翻轉”提示出來。由于這種情況可能影響、也可能不影響測試結果，所以當測試成功后，可忽略；當測試失敗時，才需要用戶處理。
3.3.5輸入浮動
管腳狀態(tài)“輸入浮動”一般情況下是該管腳懸空。除非該管腳直接與電路板的插腳相連，否則意味著該腳斷線。盡管這并不影響對該器件的測

試，但它反映了電路板上一個可能的故障，所以也作為一種管腳狀態(tài)提示出來。
3.4 提高測試準確性的一般方法
從以上討論可以看出，受測試條件、器件工作環(huán)境的影響，在線測試的結果有一定的不確定性。從進口測試儀產(chǎn)品來看，主要通過兩種辦法來

提高測試的準確性：
1．加強對影響測試結果的外部因素的識別能力。在測試儀產(chǎn)品上的具體體現(xiàn)，就是的測試儀能識別的管腳狀態(tài)種類多，低檔的能識別的狀

態(tài)少。比如某進口測試儀能識別約15種、GT/ICT-Ⅱ能識別約11種、GT/ICT大約僅4、5種。
2．由于在線測試的不確定性，把整個測試過程盡量詳細的顯示出來，供用戶結合測試結果進行進一步分析，這幾乎可以說是在線測試的基本設

計原則之一。GT/ICT-Ⅱ比較好的貫徹了這個原則。遺憾的是某些國產(chǎn)測試儀的設計者沒有真正理解這一點，有些測試功能僅給出“測試通過”

、或“測試失敗”的提示，測試過程幾乎沒有提示。

四、結語
電路在線維修測試儀所依據(jù)的技術原理并不復雜，但是依據(jù)同樣這些技術做出的測試儀產(chǎn)品卻是千差萬別，而且許多差別，是在你比較深入的

了解了這項技術，有了相當?shù)氖褂媒?jīng)歷后才能體會得到。希望本文能對進一步了解這種產(chǎn)品提供幫助